1、測長機的使用方法

許多長度測量機中使用的臥式長度測量機由床身、在床身上移動的內置標準尺的滑架、觀察標準尺的千分尺顯微鏡以及施加恒定測量的裝置組成。它由放置在地面上的測量表面和支撐待測量物體的測量支架組成。已知該水平長度測量儀具有滿足阿貝原理的結構和滿足埃彭斯坦原理的結構。

在滿足阿貝原理的結構的臥式長度測量機中，可以忽略物體的測量軸線和標準長度，從而避免由于工件的不直線性而與滑架測量軸線的角度偏差而產生的測量誤差。可以忽略床。通過將刻度平面放置在同一直線上來進行測量。

另一方面，在具有滿足埃彭斯坦原理的結構的臥式長度測量機中，為了消除由于床身不直而引起的測量誤差，測量被測體的測量軸與標準件之間的距離。分離是通過將物鏡的焦距配置為與標準刻度相等，并將透鏡的焦平面光學地放置在標準刻度上來進行測量。

2、激光測長機

激光測長機用激光照射物體，利用反射光來測量物體的距離。激光長度測量機根據(jù)其測量的距離被稱為“位移傳感器"或“距離傳感器"。

位移傳感器

一種以微米為單位測量短距離（幾十毫米到幾百毫米）的長度測量裝置。

距離傳感器

一種以毫米為單位測量長距離（幾毫米到幾米）的長度測量裝置。

上述長度測量機所使用的測量方法包括“三角測量法"和“飛行時間(ToF)法"。

三角測量法

這是一種利用基于反射光的三角測量原理的測量方法。長度測量裝置由發(fā)光元件和光接收元件組成。使用半導體激光器作為發(fā)光元件。測量方法是將半導體激光器聚焦的激光通過投影透鏡照射到物體上。照射到物體上的激光的漫反射的一部分經由受光透鏡在受光元件上形成光斑圖像。通過檢測和計算成像點的位置，可以測量物體的位移量。

注意，CMOS方法將CMOS(互補金屬氧化物半導體)用于光電檢測器，并且CMOS方法將CCD(電荷耦合器件)用于光電檢測器被稱為CCD方法。

飛行時間 (ToF)

是一種通過測量照射光從物體反射并被接收器接收所需的時間來測量距離的方法。已知兩種已知的方法：利用發(fā)射光波長和接收光波長之間的相位差的“相位差距離法"，以及以固定脈沖投射激光的“脈沖傳播法"。寬度。 。