什么是顯微鏡？

顯微鏡（英文：Microscope）是廣義的顯微鏡，是一種放大和觀察物體的裝置。但顯微鏡一般是指配備有數(shù)碼相機(jī)的顯微鏡，與光學(xué)顯微鏡有所區(qū)別。其主要特點(diǎn)是比光學(xué)顯微鏡有更深的焦深，并且能夠測量角度和長度。

光學(xué)顯微鏡有兩個鏡頭，物鏡和目鏡，但顯微鏡只有物鏡，與目鏡對應(yīng)的部分是數(shù)碼相機(jī)。這一點(diǎn)可以說是光學(xué)顯微鏡與顯微鏡最大的區(qū)別。使用顯微鏡時，被觀察的物體通常被投影到監(jiān)視器上。

不同制造商提供多種型號，放大倍數(shù)從幾倍到數(shù)千倍不等。

顯微鏡是做什么用的？

顯微鏡不僅可以放大和觀察物體，還可以根據(jù)獲得的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行各種評估和分析。

它已被引入汽車和航空工業(yè)、電子設(shè)備工業(yè)、醫(yī)療和化妝品工業(yè)、化學(xué)和材料工業(yè)等各個領(lǐng)域，并被用于從研究開發(fā)到質(zhì)量保證的廣泛應(yīng)用。

例如，在電子元件的故障分析中，可以使用顯微鏡進(jìn)行IC芯片的外部檢查、不良品的故障分析、異物污染的檢查、以及對發(fā)現(xiàn)的異物的尺寸和形狀的分析。

顯微鏡原理

顯微鏡是利用光學(xué)鏡頭（物鏡）來放大物體，而在光學(xué)顯微鏡中，對應(yīng)人眼的部分就是數(shù)碼相機(jī)。圖像傳感器檢測由光學(xué)透鏡放大的圖像，并將該圖像顯示在監(jiān)視器上。

光學(xué)顯微鏡的放大倍數(shù)表示為物鏡和目鏡放大倍數(shù)的乘積，但對于顯微鏡來說，顯示器尺寸和相機(jī)圖像傳感器的尺寸會影響觀察放大倍數(shù)，這一點(diǎn)決定了光學(xué)顯微鏡的放大倍數(shù)，這與思維方式不同。
麥克風(fēng)顯微鏡的放大倍數(shù)也表示為物鏡放大倍數(shù)和監(jiān)視器放大倍數(shù)的乘積。顯示器放大倍率是顯示器尺寸除以圖像傳感器尺寸。

為了更詳細(xì)地觀察物體，除了放大倍數(shù)之外，還需要分辨率，也就是辨別細(xì)節(jié)的能力。如果分辨率不夠，觀察到的圖像就會模糊，無法清晰地觀察到細(xì)節(jié)。就顯微鏡而言，分辨率受到數(shù)碼相機(jī)的物鏡和光學(xué)鏡頭的分辨率、圖像傳感器的分辨率以及監(jiān)視器的分辨率的影響。

需要根據(jù)觀察對象和目的選擇能夠提供最佳放大倍率和分辨率的型號。為了滿足用戶對高分辨率處理能力的需求，最近出現(xiàn)了4K監(jiān)視器型圖像。

有關(guān)顯微鏡的其他信息

1. 顯微鏡在牙科治療中的應(yīng)用

顯微鏡的用途之一是用于牙科治療。利用顯微鏡的調(diào)焦功能，可以觀察到肉眼難以察覺的微小病變。

特別是，在進(jìn)行 清除蛀牙細(xì)菌的根管治療時，會使用顯微鏡來增加治療師的可見度并盡可能多地去除受影響的區(qū)域。肉眼看到受影響區(qū)域的能力有限，并且存在因疏忽而錯過受影響區(qū)域的風(fēng)險。

使用顯微鏡可以提高治療質(zhì)量，并降低因未治療受影響區(qū)域而導(dǎo)致復(fù)發(fā)的風(fēng)險。但需要注意的是，使用顯微鏡進(jìn)行牙科治療原則上屬于自費(fèi)治療，不屬于保險范圍。

2.顯微鏡的美容用途

顯微鏡還用于美容相關(guān)的治療和診斷，例如整容手術(shù)和頭皮檢查。通過用顯微鏡放大觀察皮膚，可以目視檢查皮膚的干燥程度和頭發(fā)頭皮屑的發(fā)生情況，并判斷患處的狀況。

接受整容手術(shù)的顧客還可以在屏幕上看到自己皮膚和頭皮的狀況，給他們帶來檢查的滿足感。改善條件還有一個激勵因素。

3. 最新顯微鏡功能示例

如今的顯微鏡通常用于對幾微米級的電子元件和半導(dǎo)體 IC 的內(nèi)部進(jìn)行詳細(xì)分析，取代了需要在真空中觀察的掃描電子顯微鏡(SEM)。為此，在實際應(yīng)用中，需要將觀察時的放大倍率和分辨率顯著提高幾個數(shù)量級，從幾毫米提高到幾微米。

對于此操作，需要像光學(xué)顯微鏡一樣更換物鏡，但最近的顯微鏡內(nèi)置了更換鏡頭時的自動旋轉(zhuǎn)和自動對焦功能，并且?guī)缀跛械娘@微鏡都是全自動完成此過程的。

在圖像處理方面，我們使用了將高倍率圖像像榻榻米一樣縱向和橫向排列成一張大圖像的功能，以及調(diào)整圖像焦點(diǎn)以將物體可視化為三維（3D）形式的功能還出現(xiàn)了可以將圖像處理為三維圖像的高性能類型。

在某些情況下，這些功能被組合起來用于檢查半導(dǎo)體IC的接線并分析電子元件的內(nèi)部缺陷。